數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)/數(shù)字式四探針測(cè)試儀

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產(chǎn)品名稱: 數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)/數(shù)字式四探針測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): SZB-SX1934
產(chǎn)品廠商: 恒奧德
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔

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數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)/數(shù)字式四探針測(cè)試儀產(chǎn)品點(diǎn) 四探針測(cè)試儀是根據(jù)單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)*的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測(cè)試用儀器。

數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)/數(shù)字式四探針測(cè)試儀 的詳細(xì)介紹

數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)/數(shù)字產(chǎn)品點(diǎn) 數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)/數(shù)字式四探針測(cè)試儀
四探針測(cè)試儀是根據(jù)單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)*的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測(cè)試用儀器。
儀器以大規(guī)模集成電路為核心件，采用旋扭式開(kāi)關(guān)控制，及各種作狀態(tài)LED示。應(yīng)用微計(jì)算機(jī)術(shù)，使得測(cè)量讀數(shù)更加直觀、快速。整套儀器體積小、耗低、測(cè)量精度、測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。

測(cè)量范圍電阻率/Range：10-4—105Ω/□(可擴(kuò)展/extended range) 方塊電阻(薄層電阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 電阻/resistance：10-6—105Ω
可測(cè)晶片直徑（*） φ100mm(標(biāo)配)，方形230×220mm(*)
*電阻測(cè)量誤差(按JJG508-87)
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%讀數(shù)±2個(gè)字
外形尺寸 400mm×440mm×120mm
儀器重量電氣主機(jī)：約4kg 　　測(cè)試臺(tái)：約5kg
測(cè)試環(huán)境溫度：23±2℃ 相對(duì)濕度：≤65％；無(wú)頻干擾無(wú)強(qiáng)光照射
電源 220V±10%(50Hz) 耗≤35W
備注具備電腦接口

式四探針測(cè)試儀

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