掌上型光時(shí)域反射計(jì)型號(hào)：ZDK-AV6416
產(chǎn)品綜述： ZDK-AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)是針對(duì)FTTx而*的測(cè)試儀器。該產(chǎn)品主要用于測(cè)量光纖光纜的長(zhǎng)度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理性，并能對(duì)光纖線路中的事件點(diǎn)、故障點(diǎn)準(zhǔn)確定位。廣泛應(yīng)用于光纖通信系統(tǒng)的程施、維護(hù)測(cè)試及緊急搶修；光纖光纜的研制與生產(chǎn)測(cè)試等。 ZDK-AV6416外觀結(jié)構(gòu)采用業(yè)界*為的雙色雙料體化模具*藝，外觀新穎亮麗、堅(jiān)固耐用、操作非常方便，采用防反射LCD顯示，使得野外環(huán)境下操作界面清晰可見(jiàn)，整機(jī)采用雙路供電方式，大容量鋰電池使整機(jī)的作時(shí)間長(zhǎng)達(dá)10小時(shí)以上，該產(chǎn)品具有兩種USB接口形式，既可接入U(xiǎn)盤(pán)，也能通過(guò)USB數(shù)據(jù)線與PC機(jī)通信。同時(shí)，為方便操作人員攜帶方便，該產(chǎn)品采用了更人性化的*，為儀器配備了舒適的背帶。主要點(diǎn)： ● 掌上型、重量輕、便于攜帶 ● 業(yè)界*的雙色雙料體化防濺式模具藝，堅(jiān)固耐用 ● 防反射LCD，野外環(huán)境下顯示界面清晰可見(jiàn) ● 1.6m短事件盲區(qū)，測(cè)試光纖跳線輕松自如 ● 具有自動(dòng)及手動(dòng)測(cè)試能 ● 雙USB接口能，既可外接U盤(pán)，也能通過(guò)SyncActive軟件與PC機(jī)通信 ● 支持Bellcore GR196文件格式 ● **電池電量示及電池低電壓告警能 ● WinCE視窗操作系統(tǒng)，中英文操作界面 ● 10小時(shí)長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間，適于長(zhǎng)時(shí)間野外施 ● VFL可視故障定位能 ● OTDR光輸出頭采用可更換方式，端面清潔更加方便● 短事件盲區(qū) ZDK-AV6416具有短的事件盲區(qū)，尤其適于對(duì)短的光纖鏈路或光纖跳線的測(cè)試。● 快速自動(dòng)測(cè)試 ZDK-AV6416的自動(dòng)測(cè)試能使得用戶(hù)無(wú)需了解更多的有關(guān)該儀器操作的細(xì)節(jié)，測(cè)試步驟變得非常簡(jiǎn)單，只需要接入光纖、點(diǎn)擊【測(cè)試】按鈕即可，儀器會(huì)自動(dòng)設(shè)置測(cè)試條件并*終給出準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果，如測(cè)試曲線和事件列表等。● 快速曲線分析 ZDK-AV6416能夠快速準(zhǔn)確地查找出測(cè)試曲線中的事件點(diǎn)或故障點(diǎn)及其位置信息，并以事件表的形式列出線路中所有的事件信息，這對(duì)線路維護(hù)人員非常有用，既提測(cè)試效率，又無(wú)需了解煩瑣的背景知識(shí)。
曲線分析及事件列表
● 強(qiáng)的文件管理 ZDK-AV6416具有強(qiáng)大的文件管理能，除了能對(duì)機(jī)內(nèi)或U盤(pán)的文件行存儲(chǔ)、瀏覽、刪除外，還能夠外接基于PCL語(yǔ)言的激光打印機(jī)或噴墨打印機(jī)，以便打印測(cè)試報(bào)表。除此之外，ZDK-AV6416還可借助SyncActiveSync軟件通過(guò)USB數(shù)據(jù)線與PC機(jī)速通信。
文件管理及數(shù)據(jù)傳輸
● 便利的VFL能 借助ZDK-AV6416的可視紅光故障（VFL）能可以非常方便、快捷地發(fā)現(xiàn)短距離光纖鏈路中斷點(diǎn)或大的損耗點(diǎn)位置，以便維護(hù)人員及時(shí)采取措施，節(jié)省時(shí)間。
● 典型應(yīng)用
ZDK-AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)主要用于對(duì)FTTx網(wǎng)路的測(cè)試。該產(chǎn)品為用戶(hù)提供了種低成本的測(cè)試方案，具有手動(dòng)測(cè)試(實(shí)時(shí)測(cè)試、平均測(cè)試)、自動(dòng)測(cè)試和盲區(qū)測(cè)試3種模式。手動(dòng)測(cè)試模式：該測(cè)試模式適于那些對(duì)該儀器了解的熟練操作者，因此能夠得到更加準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。在手動(dòng)測(cè)試模式中，用戶(hù)可根據(jù)測(cè)試需要選擇實(shí)時(shí)測(cè)試模式或平均測(cè)試模式。 實(shí)時(shí)測(cè)試可快速檢測(cè)光纖鏈路的動(dòng)態(tài)變化，應(yīng)用于需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)或觀察光纖鏈路的對(duì)接過(guò)程及效果。 平均測(cè)試模式可以盡*可能地抑制測(cè)試曲線中的噪聲，從而得到更加的測(cè)試結(jié)果。在平均測(cè)試模式中，平均次數(shù)越大，則對(duì)噪聲的抑制效果越好，但測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)的加長(zhǎng)，因此，在實(shí)際使用中，可根據(jù)需要靈活設(shè)置平均次數(shù)。自動(dòng)測(cè)試模式：該模式下，儀器能夠自動(dòng)設(shè)置測(cè)試條件，并給出測(cè)試結(jié)果，無(wú)需操作者了解復(fù)雜的背景知識(shí)和有關(guān)儀器操作的細(xì)節(jié)。為了提自動(dòng)測(cè)試的精度，可以適當(dāng)加大自動(dòng)測(cè)試時(shí)的平均次數(shù)，但將延長(zhǎng)自動(dòng)測(cè)試的時(shí)間。盲區(qū)測(cè)試模式：該模式適用于對(duì)短距離光纖的測(cè)試，如測(cè)試光纖跳線的長(zhǎng)度等，在該模式下，如希望儀器獲得*的測(cè)試結(jié)果，要求被測(cè)光纖末端的反射損耗(或稱(chēng)回波損耗)大于40dB。● 術(shù)規(guī)范
注：1. 環(huán)境溫度23℃±2℃，*測(cè)試脈沖寬度，平均次數(shù)大于300。 2. 盲區(qū)測(cè)試模式(量程4km、脈寬10ns、衰減10dB)，光纖端面反射損耗≥40dB，典型值。 3. 低亮度、不測(cè)試。● 訂貨信息 主機(jī)：ZDK-AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì) 標(biāo)配：
標(biāo)準(zhǔn)模塊：ZDK-AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)可選購(gòu)的模塊如下表
選件：