ZDK-AV6332型光回波損耗測(cè)試儀可以同時(shí)測(cè)量插入損耗和回波損耗。操作簡(jiǎn)單，機(jī)多用。適用于光纖光纜、光器件的插入損耗和回波損耗的測(cè)量。校準(zhǔn)參數(shù)可以存儲(chǔ)，用戶不需要每天校準(zhǔn)，簡(jiǎn)化了測(cè)量過(guò)程。測(cè)量重復(fù)性好。接頭易于清潔。廣泛應(yīng)用于光纖通信科研、教學(xué)和生產(chǎn)域。主 要 術(shù) 標(biāo)作波長(zhǎng)1310nm，1550nm回波損耗范圍0～70dB準(zhǔn)確度±1.5dB率范圍-70～+3dBm準(zhǔn)確度±0.25dB(-10dBm)連接器類型FC、SC、ST作溫度0℃～+40℃電源AC220V，50Hz外形尺寸及重量長(zhǎng)´寬´=280´280´85，4kg